星研究所設備に関して
走査型電子顕微鏡
倍率 ×20〜300,000
分解能 3.5nm
像の種類
2次電子線像
反射電子線像(組成像)
蛍光X線分析装置
測定原理
エネルギー分散型蛍光X線分析法
測定元素
11Na〜92U
分析内容
材質の特定
腐食要因元素の特定
ビツカース硬度計＜アカシ＞
金属顕微鏡組織 ×45〜900倍＜オリンパス＞
実態顕微鏡 ×1〜60倍＜ライカ＞
金属組織用研磨機
水中切断機
Au金属蒸着装置
高温樹脂埋込み機
その他測定機器
事例紹介
三菱重工業株式会社 横浜製作所
トピー工業株式会社
株式会社タツノ・メカトロニクス
新菱製作所株式会社
神奈川機器工業株式会社
その他多数